HX50N系列
HX50N系列半自动测头台适用于4寸, 5英寸晶圆, 包括二极管, 晶体管, MOSFET管, 垂直结构的测量芯片, 特别适用于翘曲晶片及高压晶片测试, 可选多针检测功能, 能否同时实现一个以上的测量要求, 提高机器的测试能力.
HX50N系列概述
HX50N系列半自动测头台适用于4寸, 5英寸晶圆, 包括二极管, 晶体管, MOSFET管, 垂直结构的芯片测量, 特别适用于翘曲晶片及高压晶片测试, 可选多针检测功能, 能否实现多台机器同时测量的要求，提高测试能力.
软件功能介绍:
1. 可以测试晶圆片, 可选择测试范围, 支持交错采样和环形测试, MAP图可编辑测试;
2. 支持坏点复测;
3. 具有离线冲孔和同步冲孔功能;
4. 具有触点缓冲功能，针痕稳定;
5. 运行精度补偿功能，保证试验的稳定性;
6. 试验产量、总数、速度显示;
7. CCD图像自动对准定位;
8. 该设备具有一定的抗干扰能力, 支持高低温测试, 稳定运行;
9. 多箱分类试验, 可以存储测试数据, 可以导出, 兼容使用背道设备格式, 具有数据统计分析功能;
10. 操作员、管理员、系统厂商权限管理功能;
HX50N系列技术参数
HX50N系列基本配置
半导体
IC
晶片
